OLED、MicroLED 及其他自发光显示屏的测试和校正

显示器测量是对光度值的科学量化，可根据标准人眼的感知方式，对显示屏的视觉质量（从亮度、色度到对比度）进行评估。较新的OLED、microLED 和其他自发光显示技术为制造商带来了全新的测量挑战。它们之所以被称为 "发光式"，是因为显示屏的每个像素都是独立发光（与传统的液晶显示屏不同，液晶面板由 LED 背光照明）。对于自发光显示屏，LED 并不是 "混合 "在液晶面板后面，而是直接观看。由于每个发射器的亮度和颜色范围都很大，因此观众看到的显示屏可能会不均匀（mura）。

为了校正mura并确保均匀的外观，必须精确测量显示屏的每个像素，以便应用校正因子。这种校正过程称为 demura. 微型发光二极管的每个像素和子像素元素可能小至微米或几十微米，这给显示测量带来了一系列全新挑战。

在本次瑞淀光学系统的演讲中，区域销售经理 Chris Williamson 将与大家探讨自发光显示器及其带来的质量挑战，他还将介绍可用于OLED 和 microLED 显示器的各种显示测量方法，解释如何实现自发光显示器的Demura（校正），从而使面板、显示器和设备制造商能够提高质量和产量。

在本网络研讨会的主要议题有：

• OLED、microLED 和其他自发光型显示器的测试挑战
• 显示测量学如何应用于单个像素和子像素级别的mura（瑕疵）检测
• 自发光显示器的demura（校正）过程
• 具有demura优势的先进测量系统示例